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DTSTART;VALUE=DATE:20140115T000000DTEND;VALUE=DATE:20140117T000000DTSTAMP:20131109T061311ZUID:cotosaga.com/event/1333325CLASS:PUBLIC
CREATED:20131109T061311ZDESCRIPTION:第31回 エレクトロテスト ジャパン 〜エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展〜LAST-MODIFIED:20131109T061311ZLOCATION:東京都江東区有明三丁目 ビッグサイトSEQUENCE:0
SUMMARY:第31回 エレクトロテスト ジャパン 〜エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展〜TRANSP:OPAQUE
URL:http://54.248.204.210/event/1333325DESCRIPTION:						「ネプコン ジャパン 2014」の構成展示会のひとつ。<br />
エレクトロニクス製造、研究・開発における検査技術の専門展示会。外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、各種分析装置などあらゆる検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展し、自動車／電装品メーカー、基板メーカー、電子部品メーカーとの商談の場となる。<br />
<br />
■出展対象製品<br />
【外観検査装置】<br />
・実装基板外観検査装置<br />
・赤外線検査装置<br />
・ボール外観検査装置<br />
・バンプ外観検査装置<br />
・半導体チップ外観検査装置<br />
・電子部品外観検査装置<br />
・はんだ外観検査装置<br />
・X線検査装置<br />
・TAB外観検査装置<br />
・リードフレーム外観検査装置<br />
・基板外観検査装置<br />
　<br />
【リワーク／リペア装置】<br />
・BGA／CSPリワークシステム<br />
・リワーク用各種治具、ツール<br />
・BGA／CSPリワーク装置<br />
　<br />
【テスタ】<br />
・インサーキットテスタ<br />
・バウンダリスキャンテスタ<br />
・IC／LSIテスタ<br />
・ファンクションテスタ<br />
・ICテストソケット<br />
・ベアボードテスタ<br />
　<br />
【検査関連部品】<br />
治具、プローブ、ステージ　　など<br />
　<br />
【測定・試験・分析機器】<br />
・2・3次元測定機器<br />
・恒温・恒湿試験装置<br />
・各種環境試験装置<br />
・耐久試験装置／振動計<br />
・材料分析装置<br />
・各種測定・試験・分析機器<br />
・膜厚測定機器<br />
・バーンイン試験装置<br />
・材料試験装置<br />
・信頼性／評価試験装置<br />
・各種分析ソフト<br />
・センサ・計測関連部品　　など<br />
　<br />
【分析受託サービス】<br />
分析受託・サービス　　など<br />
　<br />
【その他各種検査・試験・測定装置・部品】<br />
<br />
■特設ゾーン：<br />
・非破壊検査ゾーン<br />
・画像処理ゾーン<br />
<br />
■併催企画：専門技術セミナー　<br />
<br />
■来場対象<br />
・電気・電子機器メーカー<br />
・半導体・アセンブリメーカー<br />
・自動車・電装品メーカー<br />
・医療機器メーカー<br />
・産業機器・FA機器メーカー<br />
・映像機器メーカー<br />
・EMS企業／サブコントラクター<br />
・モバイル機器（スマートフォンなど）メーカー<br />
・コンピュータ（および周辺機器メーカー）<br />
・航空機器・船舶用機器メーカー<br />
・アミューズメント機器メーカー<br />
・光学機器メーカー　　など<br />
<br />
■前回開催結果<br />
　出展者数：30626 人<br />
　来場者数：1244 社<br />
<br />
■併催展<br />
第43回 インターネプコン ジャパン<br />
第15回 半導体パッケージング技術展<br />
第15回 電子部品 EXPO<br />
第15回 プリント配線板 EXPO<br />
第5回 先端 電子材料EXPO<br />
第4回 エレクトロニクス業界向け [精密] [微細] 加工技術EXPO<br />
<br />
■同時開催展<br />
オートモーティブ ワールド 2014<br />
ライティング ジャパン 2014<br />
<br />
■関連リンク<br />
第30回 エレクトロテスト ジャパン<br />
<br />
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