「セミリエsemilier.com」ジャパン･リサーチ･ラボ　代表　博士（工学）　奥村　治樹氏による材料・プロセス開発のための表面・深さ方向分析技術　セミナー 掲載　平成23年3月24日13:00～16:30 【東京テレポート】

現代は、工業材料から半導体、医療分野まで、様々な材料やプロセスが研究開発され、実際に利用されている。それらは文字通り多種多様で多岐に亘っているが、共通するものとして「表面」がそのほとんど全てと関わっていると言って良い。そして、撥水性や反射など表面そのものが直接的に最終特性を左右するものはもちろん、薄膜や多層膜の形成など界面が関わるものもその根源は表面が関わっていると言える。すなわち、極論すれば現代技術は表面が支配しており、言い換えるなら、表面を支配できれば現代技術を支配できるとも表現できる。また、表面はもちろん、膜や界面、そして近年注目されている傾斜材料や複合材料など様々な新規材料においては深さ方向分析も欠くことはできない。
　本講演では、分かっているようで実はその奥は言葉とは裏腹に限りなく深い表面というものについての解説から、表面を支配する物性とコントロール、そして、その姿を明らかにするための分析評価技術と実際に分析する上での注意点やノウハウを詳細に解説する。また、表面に限らず、表面分析と一対を成す深さ方向分析、そして、その真の姿を知ることが極めて難しい界面を知ることや、研究開発の考え方や進め方についても実例を交えながら解説を行う。
【受講対象者レベル】
初心者から中・上級者まで分析部門の方はもちろん、研究部門の方、管理者の方にも役立つ基礎から応用、研究開発における分析活用とマネジメントまで解説